NeoDen خارج الخط AOI في خط SMT

سمات

1) نظام الكشف

مشروع الكشف: الأجزاء المفقودة، القصدير المفقود، الدائرة القصيرة، اللحام الزائف، الأجزاء الخاطئة، العكس للغاية، النصب التذكاري، النوع العكسي، إلخ.

عنصر الكشف: عنصر الرقاقة (أكثر من 01005)، IC (0.3 مم) = درجة الصوت)، مكونات FPCB للقدم وما إلى ذلك

الحجم القابل للفحص: الطول 400 * العرض 320 ملم

2) النظام البصري

طريقة الكشف: مطابقة القالب، استخراج النصوع، متوسط ​​النصوع، الحد الأدنى من السطوع، الحد الأقصى للسطوع استخراج اللون، الكشف الدائري، اكتشاف الأحرف، كشف الإزاحة، كشف الزاوية، إلخ

الكاميرا الصناعية: مجموعة واحدة من الكاميرات الملونة عالية الوضوح، HIKVISION أو Basler اختيارية

مصدر الضوء: مجموعة واحدة من مصدر ضوء LED دائري متعدد الزوايا RGB

عدسة الكاميرا: مجموعة واحدة من العدسات المركزية عالية الوضوح، DOF: 4 مم

الدقة: 15 ميكرومتر قياسي (10 ميكرومتر، 15 ميكرومتر، 20 ميكرومتر اختياري)

3) وظيفة البرمجيات

اتصال الإشارة: لا توجد واجهة إشارة منبع/يدعم نظام MES للشبكات 4.0/يدعم نظام NGbuffer

نقطة علامة: يمكن تعيين نقاط علامة متعددة لدعم نقاط علامة متعددة للصور المجمعة ودعم نقاط العلامة السيئة

وظيفة الامتداد: وظيفة بيانات CAD، والتعرف والكشف التلقائي على الوجهين، ونقطة انطلاق تلقائية، والتعرف التلقائي على الرمز الشريطي، والوظيفة الإحصائية SPC، ودعم نظام ShopFloor وما إلى ذلك.

مجال الرؤية: وفقًا لدرجة التحليل، فهي على التوالي: 32*20 مم2 (10 ميكرومتر)؛42*30 مم2 (15 ميكرومتر)؛55 * 42 مم 2 (20 ميكرومتر)

وظيفة الاختيار: نظام خارج الخط ونظام محطة الصيانة